HAST試驗(yàn)箱的關(guān)鍵應(yīng)用

HAST試驗(yàn)箱通過模擬高溫、高濕、高壓環(huán)境，可以快速加速測試樣品的老化過程，幫助制造商發(fā)現(xiàn)并解決潛在的產(chǎn)品設(shè)計(jì)問題，如材料老化、腐蝕、絕緣電阻下降等。這有助于提高產(chǎn)品的可靠性和耐久性，從而確保長期的穩(wěn)定運(yùn)行。

主要特點(diǎn)和組成

- 高溫高壓腔室：用于模擬極端溫度和壓力條件。

- 濕度控制系統(tǒng)：精確控制測試環(huán)境的濕度。

- 數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)：實(shí)時(shí)記錄測試過程中的數(shù)據(jù)變化。

絕緣電阻劣化(離子遷移）測試體統(tǒng)

與離子遷移測試系統(tǒng)配套使用的HAST試驗(yàn)箱，可以進(jìn)一步評估絕緣電阻劣化問題。通過偏壓測試、漏電流測試、擊穿電壓測試等，可以評估器件在極端環(huán)境下的性能和壽命。

環(huán)境模擬與電性能測試

HAST試驗(yàn)箱不僅限于環(huán)境模擬試驗(yàn)，還可以進(jìn)行如caf測試、emc測試等電性能測試，確保產(chǎn)品在各種條件下的穩(wěn)定性和安全性。

HAST試驗(yàn)箱是電子產(chǎn)品制造商進(jìn)行高加速應(yīng)力測試和老化測試的重要工具。它通過模擬嚴(yán)酷的環(huán)境條件，幫助制造商識別并解決產(chǎn)品設(shè)計(jì)的潛在問題，從而提高產(chǎn)品的可靠性和耐久性。通過配套離子遷移測試系統(tǒng)，HAST試驗(yàn)箱還能評估絕緣電阻劣化，確保電子器件在各種條件下的穩(wěn)定運(yùn)行。

部分試驗(yàn)條件

試驗(yàn)條件	試驗(yàn)時(shí)間(小時(shí))	備注
85℃,85%	24,48,96,192,408,500,1000	推薦半導(dǎo)體、PCB和光伏產(chǎn)品采用 此標(biāo)準(zhǔn)
110℃,85%	24,48,96,192,408,500,1000	推薦半導(dǎo)體塑封芯片采用此標(biāo)準(zhǔn)
120℃,85%	24,48,96,192,408,500,1000	推薦半導(dǎo)體塑封芯片采用此標(biāo)準(zhǔn)
130℃,85%	24,48,96,192,408,500,1000	推薦半導(dǎo)體塑封芯片采用此標(biāo)準(zhǔn)

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